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XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移,實現無人值守多點測量,測量軟件置入*的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業界難題。
鍍層測厚儀:多元迭代的EFP算法充分運用各種已知條件及譜圖,參與運算出更多使用者需求的檢測結果,關聯:已知、未知及半定量,成分、密度、輕元素、有機物、化合物等等。
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