射線熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。

能量色散光譜儀：用一定頻率的紅外光聚焦照射被分析的樣品時，文庫如果分子中某個基團的振動頻率與照射紅外線頻率相同便會產生共振，從而吸收一定頻率的紅外線，把分子吸收紅外線的這種情況用儀器記錄下來，便能得到全面反映樣品成分特征的光譜，進而推測化合物的類型和結構。

X射線熒光光譜儀應用（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

EDX-A80型能量色散X熒光光譜儀介紹（簡稱EDXRF）是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。

傅里葉紅外光譜儀應用：是有機化合物分析中廣泛應用的方法。由于紅外光譜的高度專屬性，在高分子材料檢驗中，紅外光譜法常與其它理化方法聯合使用，作為高分子材料行業的重要的鑒別方法。

材料分析紅外光譜儀是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。