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光學鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析。
技術參數符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61（1997） JIS K7105-81 等測試標準
光密度儀OD值測試 LS117光密度儀主要用于測量材料的光密度和透光率值，主要適用于以下三大類材料的測量：乳白，霧狀，磨砂毛面等各種漫透射材料的透光率；X光片，鋁膜等材料的光密度測量；各種菲林膠片的光密度，相對光密度，網點面積率測量。
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